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测试座,烧录座,老化座Burn-in Socket、Test Socket

发布者: 新啓电子张生 | 发布时间: 2017-1-3 10:12| 查看数: 767| 评论数: 0|帖子模式

本帖最后由 新啓电子张生 于 2017-1-3 10:21 编辑

测试座,烧录座,老化座Burn-in Socket、Test Socket适用于BGA,QFP,QFN.LGA.CSP,DIP.SOP,PLCC等一系列封装测试。,主要用于芯片的不良产品的检测(开短路,电流等),兼容性检测,及芯片烧录资料芯片老化,失效分析等一系列列的产品制作,联系人张生,15112450624,1749001524


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